هن مطالعي ۾، اسان تحقيق ڪئي Cu/Ni nanoparticles مائڪرو ڪاربن ذريعن ۾ گڏيل جمع ڪرڻ دوران RF sputtering ۽ RF-PECVD، گڏوگڏ مقامي سطحي پلازمون گونج CO گئس جي ڳولا لاءِ Cu/Ni nanoparticles استعمال ڪندي.ذرات جي مورفولوجي.مٿاڇري جي مورفولوجي جو اڀياس ڪيو ويو 3D ايٽمي قوت مائڪرو گرافس جو تجزيو ڪندي تصويري پروسيسنگ ۽ فرڪٽل / ملٽي فرڪٽل تجزيو ٽيڪنالاجي استعمال ڪندي.شمارياتي تجزيو MountainsMap® پريميئم سافٽ ويئر استعمال ڪندي ڪيو ويو ٻن طرفي تجزيي جي ويرينس (ANOVA) ۽ گهٽ ۾ گهٽ اهم فرق ٽيسٽ سان.مٿاڇري جي نانو اسٽريچرز کي مقامي ۽ عالمي مخصوص ورڇ آهي.تجرباتي ۽ نقلي رترفورڊ پسمانده اسپيڪٽرا نانو ذرات جي معيار جي تصديق ڪئي.تازو تيار ڪيل نمونن کي پوءِ ڪاربان ڊاءِ آڪسائيڊ چمني جي سامهون آندو ويو ۽ انهن جي استعمال کي گيس سينسر طور استعمال ڪيو ويو، ان کي مقامي سطح جي پلازمون گونج جي طريقي سان استعمال ڪيو ويو.ٽامي جي پرت جي چوٽي تي نڪيل پرت جو اضافو مورفولوجي ۽ گيس جي چڪاس جي لحاظ کان دلچسپ نتيجا ڏيکاريو.رترفورڊ بيڪ اسڪيٽرنگ اسپيڪٽرو اسڪوپي ۽ اسپيڪٽروسکوپي تجزيي سان پتلي فلم جي مٿاڇري جي ٽاپگرافي جي جديد اسٽيريو تجزيو جو ميلاپ هن فيلڊ ۾ منفرد آهي.
گذريل ڪجهه ڏهاڪن کان تيز هوا آلودگي، خاص طور تي تيز صنعتي ٿيڻ جي ڪري، تحقيق ڪندڙن کي گيس جي ڳولا جي اهميت بابت وڌيڪ سکڻ جي هدايت ڪئي آهي.ڌاتو نانو ذرات (NPs) کي ڏيکاريو ويو آهي گئس سينسر لاءِ واعدو ڪندڙ مواد 1,2,3,4 جيتوڻيڪ پتلي ڌاتو فلمن جي مقابلي ۾ جيڪي مقامي سطح جي پلازمون گونج (LSPR) جي قابل هوندا آهن، جيڪو هڪ اهڙو مواد آهي جيڪو مضبوط ۽ مضبوط طور تي محدود برقي مقناطيسي سان گونجندو آهي. فيلڊز 5,6,7,8.هڪ سستي، گهٽ زهر ۽ ورڇيل منتقلي واري ڌاتو جي طور تي، ٽامي کي سائنسدان ۽ صنعت خاص طور تي سينسر ٺاهيندڙن پاران هڪ اهم عنصر سمجهيو ويندو آهي.ٻئي طرف، nickel transition Metal catalysts ٻين catalysts10 کان بھتر ڪم ڪن ٿا.نانوسڪيل تي Cu/Ni جي سڃاتل ايپليڪيشن انهن کي اڃا به وڌيڪ اهم بڻائي ٿي، خاص طور تي ڇاڪاڻ ته انهن جي ساختماني ملڪيت فيوژن 11,12 کان پوء تبديل نه ٿيندي آهي.
جڏهن ته ڌاتو نانو ذرڙا ۽ انهن جي وچ ۾ انٽرفيس ڊائلٽرڪ ميڊيم سان مقامي سطح جي پلازمون گونج ۾ اهم تبديلين کي ظاهر ڪن ٿا، انهن کي اهڙيء طرح استعمال ڪيو ويو آهي بلڊنگ بلاڪ جي طور تي گئس جي چڪاس لاءِ.جڏهن جذب اسپيڪٽرم تبديل ٿئي ٿو، ان جو مطلب اهو آهي ته گونج واري ويڪرائي ڦاڪ ۽ / يا جذب جي چوٽي جي شدت ۽ / يا FWHM جا ٽي عنصر 1، 2، 3، 4 ذريعي تبديل ٿي سگهن ٿا. نانو تعمير ٿيل سطحن تي، جيڪي سڌو سنئون ذرات جي سائيز، مقامي سطح سان لاڳاپيل آهن. ٿلهي فلمن جي بجاءِ نانو ذرات ۾ پلازمون گونج، ماليڪيولر جذب 14 جي سڃاڻپ لاءِ هڪ مؤثر عنصر آهي، جيئن Ruiz et al پاران پڻ اشارو ڪيو ويو آهي.15.
CO گيس جي نظرياتي چڪاس جي حوالي سان، ادب ۾ ڪجهه جامع مواد جهڙوڪ AuCo3O416، Au-CuO17 ۽ Au-YSZ18 ٻڌايو ويو آهي.اسان سون کي هڪ عظيم ڌاتو سمجهي سگهون ٿا جيڪو دھاتي آڪسائيڊس سان گڏ گڏ ڪيل گيس ماليڪيولن کي ڳولڻ لاءِ جيڪو ڪيميائي طور تي ڪمپوزٽ جي مٿاڇري تي جذب ٿئي ٿو، پر سينسر جو بنيادي مسئلو ڪمري جي حرارت تي انهن جو ردعمل آهي، انهن کي ناقابل رسائي بڻائي ٿو.
گذريل ڪجھ ڏهاڪن کان وٺي، ايٽمي قوت مائڪرو اسڪوپي (AFM) کي استعمال ڪيو ويو آهي هڪ جديد ٽيڪنڪ جي طور تي ٽن طرفن جي مٿاڇري جي مائڪرومورفولوجي کي خاص ڪرڻ لاء اعلي نانوسڪيل قرارداد 19,20,21,22 تي.ان کان علاوه، اسٽيريو، فرڪٽل/ملٽي فرڪٽل تجزيو23,24,25,26، پاور اسپيڪٽرل ڊينسٽي (PSD)27 ۽ Minkowski28 فنڪشنل ٿلهي فلمن جي مٿاڇري جي ٽاپگرافي کي خاص ڪرڻ لاءِ جديد ترين اوزار آهن.
ھن مطالعي ۾، مقامي سطح جي پلازمون گونج (LSPR) جذب جي بنياد تي، ايڪٽيلين (C2H2) Cu/Ni NP جا نشان ڪمري جي حرارت تي CO گيس سينسر طور استعمال ڪرڻ لاءِ جمع ڪيا ويا.Rutherford backscatter spectroscopy (RBS) استعمال ڪيو ويو AFM تصويرن مان ساخت ۽ مورفولوجي جو تجزيو ڪرڻ لاءِ، ۽ 3D ٽوپوگرافڪ نقشن کي MountainsMap® پريميئم سافٽ ويئر استعمال ڪندي سطح جي آئوٽروپي ۽ مٿاڇري جي مائڪروٽيڪچرز جي سڀني اضافي مائڪرومورفولوجيڪل پيٽرولن جو مطالعو ڪيو ويو.ٻئي طرف، نوان سائنسي نتيجا ظاهر ڪيا ويا آهن جيڪي صنعتي عملن تي لاڳو ٿي سگهن ٿا ۽ ڪيميائي گئس جي ڳولا (CO) لاءِ ايپليڪيشنن ۾ وڏي دلچسپي جا آهن.ادب پهريون ڀيرو هن نانو پارٽيڪل جي ترکیب، خاصيت ۽ ايپليڪيشن جي رپورٽ ڪري ٿو.
Cu/Ni nanoparticles جي هڪ پتلي فلم تيار ڪئي وئي آر ايف اسپٽرنگ ۽ آر ايف-پي اي سي وي ڊي ڪو-ڊپوزيشن سان 13.56 MHz پاور سپلائي سان.طريقو مختلف مواد ۽ سائيز جي ٻن electrodes سان هڪ ريڪٽر تي ٻڌل آهي.ننڍو هڪ ڌاتو آهي هڪ توانائي واري اليڪٽرروڊ جي طور تي، ۽ وڏو هڪ اسٽينلیس اسٽيل جي چيمبر ذريعي هڪ ٻئي کان 5 سينٽي جي فاصلي تي گرائونڊ ڪيو ويو آهي.SiO 2 سبسٽريٽ ۽ Cu ٽارگيٽ کي چيمبر ۾ رکو، پوءِ چيمبر کي خالي ڪريو 103 N/m 2 تي بنيادي دٻاءَ جي طور تي ڪمري جي حرارت تي، ايسٽيلين گيس داخل ڪريو چيمبر ۾، ۽ پوءِ دٻاءُ وڌو ته ماحولي دٻاءُ.هن مرحلي ۾ ايڪٽيلين گيس استعمال ڪرڻ جا ٻه مکيه سبب آهن: پهريون، اهو پلازما جي پيداوار لاءِ ڪيريئر گيس طور ڪم ڪري ٿو، ۽ ٻيو، ڪاربن جي مقدار ۾ نانو ذرات جي تياري لاءِ.جمع ڪرڻ وارو عمل 30 منٽ لاءِ ابتدائي گيس پريشر ۽ آر ايف پاور 3.5 N/m2 ۽ 80 W تي ترتيب ڏنو ويو.پوء خلا کي ٽوڙيو ۽ هدف کي ني ڏانهن تبديل ڪريو.2.5 N/m2 ۽ 150 W جي شروعاتي گيس پريشر ۽ RF پاور تي ترتيب ڏيڻ واري عمل کي بار بار ڪيو ويو.آخرڪار، ٽامي ۽ نڪيل نانو ذرات هڪ ايڪٽيلين ماحول ۾ جمع ٿيل ٽامي / نڪيل نانو اسٽريچرز ٺاهيندا آهن.نموني جي تياري ۽ سڃاڻپ لاءِ جدول 1 ڏسو.
تازو تيار ڪيل نمونن جون 3D تصويرون 1 μm × 1 μm چورس اسڪين ايريا ۾ رڪارڊ ڪيون ويون هڪ نانو ميٽر ملٽي موڊ ايٽمي قوت مائڪرو اسڪوپ (ڊجيٽل اوزار، سانتا باربرا، CA) استعمال ڪندي غير رابطي واري موڊ ۾ 10-20 μm/min جي اسڪيننگ اسپيڊ تي .سان.MountainsMap® Premium سافٽ ويئر استعمال ڪيو ويو 3D AFM ٽوپوگرافڪ نقشن کي پروسيس ڪرڻ لاءِ.ISO 25178-2:2012 29,30,31 جي مطابق، ڪيترن ئي مورفولوجيڪل پيٽرولن کي دستاويز ڪيو ويو آهي ۽ بحث ڪيو ويو آهي، اونچائي، بنيادي، حجم، ڪردار، فعل، خلا ۽ ميلاپ جي وضاحت ڪئي وئي آهي.
تازي تيار ڪيل نمونن جي ٿلهي ۽ ساخت جو اندازو لڳايو ويو MeV جي آرڊر تي هاءِ انرجي رترفورڊ بيڪ اسڪيٽرنگ اسپيڪٽرو اسڪوپي (RBS) استعمال ڪندي.گيس جي جاچ جي صورت ۾، LSPR اسپيڪٽروڪوپي استعمال ڪئي وئي UV-Vis spectrometer استعمال ڪندي 350 کان 850 nm جي موج جي ڊيگهه ۾، جڏهن ته هڪ نمائندو نمونو بند ٿيل اسٽينلیس اسٽيل ڪيويٽ ۾ هو جنهن جو قطر 5.2 سينٽي ميٽر ۽ 13.8 سينٽي ميٽر جي اوچائي هئي. 99.9 % CO گيس جي وهڪري جي خالصيت تي (آرين گيس ڪمپني IRSQ معيار مطابق، 1.6 کان 16 l/h 180 سيڪنڊن ۽ 600 سيڪنڊن لاءِ).اهو قدم ڪمري جي گرمي پد تي ڪيو ويو، ماحول جي نمي 19٪ ۽ فوم هود.
رترفورڊ بيڪ اسڪيٽرنگ اسپيڪٽرو اسڪوپي کي آئن اسڪيٽرنگ ٽيڪنڪ طور استعمال ڪيو ويندو پتلي فلمن جي ٺهڻ جو تجزيو ڪرڻ لاءِ.هي منفرد طريقو هڪ حوالو معيار جي استعمال کان سواء مقدار جي اجازت ڏئي ٿو.آر بي ايس جو تجزيو اعليٰ توانائين کي ماپي ٿو (He2+ آئنز، يعني الفا ذرڙا) نموني تي MeV جي ترتيب تي ۽ He2+ آئنز کي ڏنل زاويي تي پٺتي پکڙيل آهي.SIMNRA ڪوڊ سڌي لائين ۽ وکر جي ماڊلنگ ۾ ڪارائتو آهي، ۽ تجرباتي RBS اسپيڪٽرا سان ان جي مطابقت تيار ڪيل نمونن جي معيار کي ڏيکاري ٿي.Cu/Ni NP نموني جو RBS اسپيڪٽرم شڪل 1 ۾ ڏيکاريو ويو آهي، جتي ڳاڙهي لڪير تجرباتي RBS اسپيڪٽرم آهي، ۽ نيري لڪير SIMNRA پروگرام جي تخليق آهي، اهو ڏسي سگهجي ٿو ته ٻه اسپيڪٽرل لائينون سٺيون آهن. معاهدو.1985 keV جي توانائي سان هڪ واقعا بيم نموني ۾ عناصر کي سڃاڻڻ لاء استعمال ڪيو ويو.مٿئين پرت جي ٿولهه اٽڪل 40 1E15Atom/cm2 آهي جنهن ۾ 86% Ni، 0.10% O2، 0.02% C ۽ 0.02% Fe آهي.فِي اُچارڻ دوران نِي ٽارگيٽ ۾ ناپاڪيءَ سان جڙيل آهي.هيٺيون Cu ۽ Ni جون چوٽيون 1500 keV تي نظر اچن ٿيون، ۽ C ۽ O2 جون چوٽيون 426 keV ۽ 582 keV تي، ترتيب سان.Na، Si، ۽ Fe جا مرحلا 870 keV، 983 keV، 1340 keV، ۽ 1823 keV آهن.
اسڪوائر 3D ٽوپوگرافڪ AFM Cu ۽ Cu/Ni NP فلم جي سطحن جون تصويرون تصوير ۾ ڏيکاريل آهن.2. ان کان علاوه، هر شڪل ۾ پيش ڪيل 2D ٽوپوگرافي ڏيکاري ٿي ته فلم جي مٿاڇري تي مشاهدو ڪيل NPs گولي جي شڪل ۾ ملن ٿا، ۽ اها مورفولوجي ساڳي آهي جيڪا گوڊسلاهي ۽ آرمنڊ32 ۽ آرمنڊ ايٽ ال.33 پاران بيان ڪيل آهي.تنهن هوندي، اسان جي Cu NPs گڏ ٿيل نه هئا، ۽ نموني صرف Cu تي مشتمل آهي، هڪ خاص طور تي نرم مٿاڇري ڏيکاري ٿي جنهن ۾ سخت چوٽيون آهن (Fig. 2a).ان جي برعڪس، CuNi15 ۽ CuNi20 جي نمونن تي کليل چوٽيون هڪ واضح گولائي شڪل ۽ وڌيڪ شدت واريون آهن، جيئن تصوير 2a ۽ b ۾ اوچائي جي تناسب سان ڏيکاريل آهي.فلم جي مورفولوجي ۾ ظاهري تبديلي ظاهر ٿئي ٿي ته مٿاڇري تي مختلف ٽوپوگرافيڪل فضائي اڏاوتون آهن، جيڪي نڪل جمع ٿيڻ واري وقت کان متاثر ٿين ٿيون.
AFM تصويرون Cu (a)، CuNi15 (b)، ۽ CuNi20 (c) پتلي فلمون.مناسب 2D نقشا، بلندي جي تقسيم ۽ ايبٽ فائرسٽون وکر هر تصوير ۾ شامل ڪيا ويا آهن.
نانو پارٽيڪلز جي اوسط اناج جي ماپ جو اندازو لڳايو ويو قطر جي تقسيم هسٽوگرام مان حاصل ڪيو ويو 100 نانو ذرات کي ماپڻ سان گيسين فٽ استعمال ڪندي جيئن FIG ۾ ڏيکاريل آهي.اهو ڏسي سگهجي ٿو ته Cu ۽ CuNi15 ۾ اناج جي سراسري ماپ (27.7 ۽ 28.8 nm) آهي، جڏهن ته CuNi20 ۾ ننڍا اناج (23.2 nm) آهن، جيڪي گوڊسلاهيءَ et al پاران ڄاڻايل قدر جي ويجهو آهن.34 (اٽڪل 24 اين ايم).bimetallic سسٽم ۾، مقامي سطح جي پلازمون گونج جون چوٽيون اناج جي سائيز ۾ تبديلي سان تبديل ٿي سگهن ٿيون35.ان سلسلي ۾، اسان اهو نتيجو ڪري سگهون ٿا ته هڪ ڊگهو ني جمع وقت اسان جي سسٽم جي Cu/Ni پتلي فلمن جي سطح پلازمونڪ ملڪيت کي متاثر ڪري ٿو.
ذرات جي ماپ جي تقسيم (a) Cu، (b) CuNi15، ۽ (c) CuNi20 پتلي فلمن مان حاصل ڪيل AFM ٽوپوگرافي.
بلڪ مورفولوجي پڻ پتلي فلمن ۾ ٽوپوگرافڪ ڍانچي جي فضائي ترتيب ۾ اهم ڪردار ادا ڪري ٿي.جدول 2 AFM نقشي سان جڙيل اونچائي تي ٻڌل ٽوپوگرافڪ پيرا ميٽرز کي لسٽ ڪري ٿو، جيڪي بيان ڪري سگھجن ٿيون وقت جي قدرن جي معنيٰ خستگي (Sa)، skewness (Ssk)، ۽ kurtosis (Sku).Sa قدر آهن 1.12 (Cu)، 3.17 (CuNi15) ۽ 5.34 nm (CuNi20)، ترتيب سان، تصديق ڪن ٿا ته فلمون وڌيڪ خراب ٿي وينديون آهن Ni deposition time وڌائڻ سان.اهي قدر انهن جي مقابلي ۾ آهن جيڪي اڳ ۾ Arman et al.33 (1-4 nm)، Godselahi et al.34 (1-1.05 nm) ۽ Zelu et al.36 (1.91–6.32 nm)، جتي هڪجهڙائي Cu/Ni NPs جي فلمن کي جمع ڪرڻ لاءِ انهن طريقن کي استعمال ڪندي اسپٽرنگ ڪيو ويو.جڏهن ته، Ghosh et al.37 Cu/Ni multilayers کي اليڪٽرروڊپوزيشن ذريعي جمع ڪيو ۽ ٻڌايو ويو ته اعلي سطحي قدر، ظاهري طور تي 13.8 کان 36 nm جي حد ۾.اها ڳالهه نوٽ ڪرڻ گهرجي ته مختلف deposition طريقن سان مٿاڇري جي ٺهڻ جي kinetics ۾ فرق مختلف فضائي نمونن سان مٿاڇري جي ٺهڻ جو سبب ٿي سگهي ٿو.تنهن هوندي به، اهو ڏسي سگهجي ٿو ته RF-PECVD طريقو 6.32 nm کان وڌيڪ نه هجڻ سان Cu/Ni NPs جي فلمن کي حاصل ڪرڻ لاءِ اثرائتو آهي.
جيئن ته اونچائي جي پروفائيل لاءِ، اعليٰ ترتيب واري شمارياتي لمحات Ssk ۽ Sku بالترتيب اونچائي جي ورڇ جي غيرمعمولي ۽ نارمليت سان لاڳاپيل آهن.سڀ Ssk قدر مثبت آھن (Ssk > 0)، ھڪڙي ڊگھي ساڄي tail38 کي ظاھر ڪري ٿو، جنھن جي تصديق ڪري سگھجي ٿي اونچائي تقسيم پلاٽ inset 2 ۾. ان کان علاوه، سڀني اوچائي پروفائلز تي ھڪڙي تيز چوٽي 39 (Sku > 3) تي غلبو ھو. ، اهو ظاهر ڪري ٿو ته وکر اوچائي ورڇ گاسي بيل وکر کان گهٽ فليٽ آهي.اوچائي ورهائڻ واري پلاٽ ۾ ڳاڙهي لڪير آهي Abbott-Firestone 40 وکر، ڊيٽا جي عام ورڇ جو جائزو وٺڻ لاءِ هڪ مناسب شمارياتي طريقو.هي لڪير اوچائي هسٽوگرام جي مجموعي رقم مان حاصل ڪئي وئي آهي، جتي بلند ترين چوٽي ۽ تمام گهڻي گرت انهن جي گهٽ ۾ گهٽ (0٪) ۽ وڌ ۾ وڌ (100٪) قدرن سان لاڳاپيل آهن.اهي ايبٽ-فائرسٽون وکر y-محور تي هڪ هموار S-شڪل آهن ۽ سڀني صورتن ۾ ڍڪيل ايراضيءَ تي پار ڪيل مواد جي فيصد ۾ ترقي پسند اضافو ڏيکارين ٿا، سڀ کان سخت ۽ سخت چوٽي کان شروع ٿي.اهو مٿاڇري جي فضائي ساخت جي تصديق ڪري ٿو، جيڪو خاص طور تي نڪل جمع ڪرڻ واري وقت کان متاثر ٿئي ٿو.
جدول 3 AFM تصويرن مان حاصل ڪيل هر مٿاڇري سان لاڳاپيل مخصوص ISO مورفولوجي پيراگرافن کي لسٽ ڪري ٿو.اهو چڱيءَ طرح معلوم ٿئي ٿو ته ايراضيءَ کان مادي تناسب (Smr) ۽ ڪاؤنٽر ايريا ٽو مادي تناسب (Smc) مٿاڇري جا ڪم ڪندڙ پيرا ميٽرز 29 آهن.مثال طور، اسان جا نتيجا ڏيکارين ٿا ته مٿاڇري جي وچين جهاز کان مٿي واري علائقي سڀني فلمن ۾ مڪمل طور تي چوٽي آهي (Smr = 100٪).تنهن هوندي به، Smr جا قدر مختلف بلندين مان حاصل ڪيا ويا آهن بيئرنگ ايريا جي کوٽائي جي ايراضي 41، ڇاڪاڻ ته پيراميٽر Smc ڄاڻايل آهي.Smc جي رويي جي وضاحت ڪئي وئي آهي Cu → CuNi20 مان ٿڌائي ۾ اضافو، جتي اهو ڏسي سگهجي ٿو ته CuNi20 لاءِ حاصل ڪيل سڀ کان وڌيڪ خرابي جي قيمت Smc ~ 13 nm ڏئي ٿي، جڏهن ته Cu لاءِ قدر اٽڪل 8 nm آهي.
Blending parameters RMS gradient (Sdq) ۽ ڊولپڊ انٽرفيس ايريا ريشو (Sdr) آھن بناوت جي برابري ۽ پيچيدگي سان لاڳاپيل.Cu → CuNi20 کان، Sdq قدرن جي حد 7 کان 21 تائين آهي، ان مان ظاهر ٿئي ٿو ته فلمن ۾ ٽوپوگرافڪ بي قاعدگيون وڌي وينديون آهن جڏهن ني پرت 20 منٽ لاءِ جمع ڪئي ويندي آهي.اها ڳالهه نوٽ ڪرڻ گهرجي ته CuNi20 جي مٿاڇري Cu جي مٿاڇري جي برابر نه آهي.ان کان علاوه، اهو معلوم ڪيو ويو آهي ته پيراميٽر Sdr جو قدر، مٿاڇري جي microtexture جي پيچيدگي سان لاڳاپيل، Cu → CuNi20 کان وڌي ٿو.Kamble et al.42 جي هڪ مطالعي مطابق، مٿاڇري جي مائڪروٽيڪچر جي پيچيدگي Sdr وڌائڻ سان وڌي ٿي، اهو ظاهر ڪري ٿو ته CuNi20 (Sdr = 945٪) Cu Films (Sdr = 229٪) جي مقابلي ۾ وڌيڪ پيچيده مٿاڇري جو مائڪرو اسٽرڪچر آهي..درحقيقت، بناوت جي خوردبيني پيچيدگيءَ ۾ تبديلي، ورهاست ۽ شڪل ۾ اهم ڪردار ادا ڪري ٿي ٿلهي چوٽي جي، جنهن کي چوٽي جي کثافت (Spd) ۽ رياضي جي معنيٰ چوٽي وکر (Spc) جي خصوصيت جي ماپن مان ڏسي سگهجي ٿو.ان سلسلي ۾، Spd Cu → CuNi20 کان وڌي ٿو، اهو ظاهر ڪري ٿو ته چوٽيون وڌيڪ گھڻائي سان منظم ٿيل آهن ني پرت جي ٿلهي سان.ان کان علاوه، Spc Cu→CuNi20 کان به وڌي ٿو، اهو ظاهر ڪري ٿو ته Cu نم جي مٿاڇري جي چوٽي جي شڪل وڌيڪ گول آهي (Spc = 612)، جڏهن ته CuNi20 جي اها تيز آهي (Spc = 925).
هر فلم جو ٿلهو پروفائل پڻ مٿاڇري جي چوٽي، بنيادي ۽ گرت وارن علائقن ۾ مختلف مقامي نمونن کي ڏيکاري ٿو.ڪور جي اوچائي (Sk)، گھٽجڻ واري چوٽي (Spk) (ڪور کان مٿي)، ۽ گرت (Svk) (ڪور کان هيٺ) 31,43 ماپي ميٽرز آهن جيڪي سطحي جهاز تي عمدي طور ماپيل آهن30 ۽ Cu → CuNi20 کان وڌي ويا آهن. سطح roughness اهم واڌارو.ساڳيءَ طرح، چوٽي جو مواد (Vmp)، بنيادي مواد (Vmc)، گرت ويڪرو (Vvv)، ۽ core void حجم (Vvc)31 ساڳيو رجحان ڏيکاريو جيئن سڀ قدر Cu → CuNi20 کان وڌي وڃن ٿا.اهو رويو ظاهر ڪري ٿو ته CuNi20 مٿاڇري ٻين نمونن جي ڀيٽ ۾ وڌيڪ مائع رکي سگهي ٿي، جيڪو مثبت آهي، اهو مشورو ڏئي ٿو ته هن مٿاڇري کي سمير ڪرڻ آسان آهي44.تنهن ڪري، اهو ياد رکڻ گهرجي ته جيئن نڪل پرت جي ٿلهي CuNi15 → CuNi20 کان وڌي ٿي، ٽوپوگرافڪ پروفائل ۾ تبديليون وڌيڪ ترتيب واري مورفولوجيڪل پيٽرولن ۾ تبديلين کان پوئتي آهن، مٿاڇري جي مائڪروٽيڪچر ۽ فلم جي فضائي نموني کي متاثر ڪن ٿا.
ڪمرشل MountainsMap45 سافٽ ويئر استعمال ڪندي AFM ٽوپوگرافڪ نقشي جي تعمير ذريعي فلم جي مٿاڇري جي خوردبيني بناوت جو هڪ معيار جو جائزو حاصل ڪيو ويو.رينڊنگ شڪل 4 ۾ ڏيکاريو ويو آهي، جيڪو ڏيکاري ٿو نمائندو نالي ۽ پولر پلاٽ سطح جي حوالي سان.جدول 4 سلاٽ ۽ اسپيس آپشنز کي لسٽ ڪري ٿو.نالن جي تصويرن مان ظاهر ٿئي ٿو ته نمونو چينلن جي هڪجهڙائي واري سرشتي تي غلبو آهي جنهن ۾ نالن جي هڪجهڙائي ظاهر ڪئي وئي آهي.جڏهن ته، ٻنهي جي وڌ ۾ وڌ گروو ڊيپٿ (MDF) ۽ سراسري گروو ڊيپٿ (MDEF) جا پيرا ميٽر Cu کان CuNi20 تائين وڌن ٿا، CuNi20 جي سڻڀ واري صلاحيت بابت اڳئين مشاهدن جي تصديق ڪن ٿا.اهو ياد رکڻ گهرجي ته Cu (Fig. 4a) ۽ CuNi15 (Fig. 4b) نمونن ۾ عملي طور تي ساڳيا رنگ اسڪيل آهن، جنهن مان ظاهر ٿئي ٿو ته Cu فلم جي مٿاڇري جي مائڪرو ٽيڪسچر ۾ اهم تبديليون نه آيون آهن جڏهن ني فلم 15 تائين جمع ڪئي وئي هئي. منٽان جي ابتڙ، CuNi20 نموني (Fig. 4c) مختلف رنگن جي ماپن سان جھرڻ جي نمائش ڪري ٿو، جيڪو ان جي اعلي MDF ۽ MDEF قدرن سان لاڳاپيل آهي.
Cu (a)، CuNi15 (b)، ۽ CuNi20 (c) فلمن جي microtextures جي نالن ۽ سطح جي isotropy.
تصوير ۾ پولر ڊراگرام.4 پڻ ڏيکاري ٿو ته مٿاڇري microtexture مختلف آهي.اهو قابل ذڪر آهي ته هڪ ني پرت جي جمع ٿيڻ سان مقامي نموني کي تبديل ڪري ٿو.نموني جي حساب سان microtextural isotropy 48٪ (Cu)، 80٪ (CuNi15)، ۽ 81٪ (CuNi20) هئي.اهو ڏسي سگهجي ٿو ته ني پرت جو جمع هڪ وڌيڪ آئسوٽروپيڪ مائڪروٽيڪچر جي ٺهڻ ۾ مدد ڪري ٿو، جڏهن ته واحد پرت Cu فلم ۾ وڌيڪ anisotropic مٿاڇري جو مائڪرو ٽيڪسچر آهي.ان کان علاوه، CuNi15 ۽ CuNi20 جي غالب فضائي تعدد گھٽ آھن انھن جي وڏي خودڪشي واري لمبائي (Sal) 44 جي ڪري Cu نمونن جي مقابلي ۾.اهو پڻ انهن نمونن (Std = 2.5 ° ۽ Std = 3.5 °) پاران ڏيکاريل ساڳئي اناج جي واقفيت سان گڏ آهي، جڏهن ته Cu نموني (Std = 121 °) لاء هڪ تمام وڏي قيمت رڪارڊ ڪئي وئي هئي.انهن نتيجن جي بنياد تي، سڀئي فلمون مختلف مورفولوجي، ٽوپوگرافڪ پروفائلز، ۽ خرابي جي ڪري ڊگھي رينج جي فضائي تبديلين کي ظاهر ڪن ٿيون.اهڙيء طرح، اهي نتيجا ظاهر ڪن ٿا ته ني پرت جي جمع ٿيڻ جو وقت CuNi bimetallic sputtered سطحن جي ٺهڻ ۾ اهم ڪردار ادا ڪري ٿو.
ڪمري جي حرارت تي هوا ۾ Cu/Ni NPs جي LSPR رويي جو مطالعو ڪرڻ ۽ مختلف CO گيس جي وهڪري تي، UV-Vis جذب اسپيڪٽرا 350-800 nm جي موج جي ڊيگهه ۾ لاڳو ڪيا ويا، جيئن تصوير 5 ۾ CuNi15 ۽ CuNi20 لاءِ ڏيکاريل آهي.مختلف CO گيس جي وهڪري جي کثافت کي متعارف ڪرائڻ سان، اثرائتو LSPR CuNi15 چوٽي وسيع ٿي ويندي، جذب وڌيڪ مضبوط ٿيندو، ۽ چوٽي (redshift) وڌيڪ موج جي موج تي، 597.5 nm کان هوا جي وهڪري ۾ 16 L/h 606.0 nm تائين.CO جي وهڪري 180 سيڪنڊن لاءِ، 606.5 nm، CO جو وهڪرو 16 l/h 600 سيڪنڊن لاءِ.ٻئي طرف، CuNi20 هڪ مختلف رويي جي نمائش ڪري ٿو، تنهنڪري CO گئس جي وهڪري ۾ اضافو نتيجو LSPR جي چوٽي ويڪرائي ڦاڪ جي پوزيشن (بليو شفٽ) ۾ 600.0 nm کان 589.5 nm تائين هوا جي وهڪري تي 16 l/h CO جي وهڪري ۾ 180 s تائين. .16 l/h CO جي وهڪري 600 سيڪنڊن لاءِ 589.1 nm تي.جيئن CuNi15 سان، اسان هڪ وسيع چوٽي ڏسي سگهون ٿا ۽ CuNi20 لاء جذب جي شدت وڌائي.اهو اندازو لڳائي سگهجي ٿو ته Cu تي ني پرت جي ٿلهي ۾ واڌ سان، گڏوگڏ CuNi15 جي بدران CuNi20 نانو ذرڙن جي سائيز ۽ تعداد ۾ واڌ سان، Cu ۽ Ni ذرڙا هڪ ٻئي جي ويجهو اچن ٿا، اليڪٽرانڪ oscillations جو طول و عرض وڌي ٿو. ، ۽، نتيجي ۾، تعدد وڌي ٿو.جنهن جو مطلب آهي: موج جي ڊيگهه گھٽجي ٿي، هڪ نيري شفٽ ٿئي ٿي.
پوسٽ جو وقت: آگسٽ-16-2023